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真理光學儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發和制造，產品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀、動態光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，既有實驗室儀器，又有在線檢測系統。真理光學秉持“科學態度，工匠精神”，為用戶提供世界先進的高端產品和服務。
真理光學匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領域的頂尖人才。張福根博士現任本公司董事長兼首席科學家，還擔任全國顆粒表征及分檢與篩網標準化技術委員會副主任委員、天津大學兼職教授，曾擔任中國顆粒學會副理事長，同時也是“歐美克”字號公司的創始人。曾擔任英國某粒度儀器公司中國總經理20余年的秦和義先生擔任本公司商務總經理，中國顆粒學會青年理事潘林超博士、陳進博士擔綱公司的研發主力。
激光（衍射法）粒度儀雖然已得到廣泛應用，但它并不完美，不論是科學基礎方面，還是技術方案方面。真理光學的團隊針對當前市面上儀器存在的不足，展開了系統的理論研究和技術創新，發現了衍射光斑（愛里斑）的反常變化現象（ACAD），解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球，并給出了反常區（不能測量粒徑）的一般公式；研究了衍射儀器的測量上限和下限；研究了顆粒折射率偏差對測量結果的影響，發明了兩種根據散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術方案（專利），解決了前向超大角測量盲區的問題，使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著提高;提出了統一的反演算法（專有技術），消除了不同計算模式給出不同結果的尷尬；設計出了高達20Kfps的超高速并行數據采樣電路，使干法測量的精度不亞于濕法測量，對高速噴霧場的測量（時間）分辨率也更高。
在納米粒度及Zeta電位儀方面，真理光學提出了比相位分析法（PALS）更先進的余弦擬合相位分析法（CF-PALS），用光纖分束取代了傳統的平板分束鏡分束，用光纖內光干涉取代了自由空間干涉，使Zeta電位的測量重復性大幅度提高。
2025年全國顆粒測試學術會議今天在嶺南文化重鎮——佛山開幕。本次年會將以“創新測試技術，驅動顆粒未來”為主題，設立特邀報告、專題研討、青年論壇、儀器展示及企業交流等多形式環節，深入探討顆粒測試前沿技術、標準進展、跨領域應用。
真理光學閃耀2025全國精密研磨拋光技術論壇，推廣納米粒度檢測技術，助力產業升級
真理光學梯形專利技術解決亞微米測量盲區痛點，為砂磨制程提供數據支撐，提升陶瓷致密性與成品良率
第37屆"2025國際橡塑展"將于2025年4月15-18日在深圳國際會展中心（寶安）舉行，當下正處于以AI大模型及人形機器人規模應用，機器學習、視覺檢測、協作機器人等技術為核心的工業4.0加速階段落地，Chinaplas橡塑展位作為每年橡塑工業的方向標，你一定不能錯過
中國先進陶瓷材料、磁性材料及粉末冶金領域盛會--2025第十七屆中國國際先進陶瓷展覽會將于下周一在上海世博會展覽館H2館盛大開幕！作為中國高端激光粒度分析儀器的領軍企業，珠海真理光學儀器有限公司將再次盛裝參展，攜多款創新產品亮相，助力高端制造領域的快速發展！
粒度分布是影響材料性能與應用效果的關鍵指標，通過粒度測定儀可將這一隱性的物理特征轉化為可量化、可追溯的數據，為產品質量控制提供精準抓手。
材料質量的核心，常藏于顆粒的微觀秩序中。粒度分布作為材料物理特性的基礎維度，直接影響其加工性能、功能表現與使用穩定性
粒徑儀作為測量顆粒大小及其分布的核心儀器，在材料科學、制藥、化工、食品加工及環境監測等領域扮演著關鍵角色，其測量結果的準確性直接影響產品質量控制、工藝優化及科學研究結論的可靠性
納米粒度儀作為現代材料表征的重要工具，在液體和粉末樣品的粒度分析領域展現出獨特的價值，為科研和工業生產提供了精準的顆粒度測量解決方案
納米激光粒度儀作為現代材料表征的重要工具，通過激光散射原理實現對納米級顆粒的分析，掌握其規范操作流程和關鍵技術要點，對獲得可靠的粒度分布數據至關重要
